Lagekontrolle & Bruchkontrolle

Bedingt durch den komplexen Fertigungsprozess in der Solarindustrie müssen Wafer unterschiedlichste Produktionsprozesse durchlaufen. Hierbei werden Wafer immer wieder durch NC-Achs-Systeme transportiert und positioniert. Die Positionen der Wafer und deren Qualität (Bruch) werden durch Vision Systeme überwacht und an das NC-Achs-System übermittelt.

Funktion

• Erfassen der ist-Position des Wafers auf dem Transportssystem (X, Y und Winkel)
• Übergabe der Koordinaten an das NC-Achs-System z.B. via Ethernet-Protokoll
• Kontrolle der Wafer auf Ausbrüche (Ecken, Kanten)
• Überprüfen der Wafer auf Maßhaltigkeit